SEPView^®  ist eine umfangreiche datenbankgestützte Softwarelösung, die in unterschiedlichen gerätespezifischen Ausführungen angeboten wird, welche den jeweiligen Erfordernissen unserer Analysatoren angepasst sind.

Sie können Partikelgrößenmessungen oder Stabilitätsanalysen durchführen, Aufrahmungs- oder Sedimentationsraten bestimmen, Shelf-life-Vorhersagen treffen, Flockungs- und Sedimentationskonsolidierung untersuchen, den Magnetisierungsgrad der dispergierten Teilchen bestimmen, oder die Teilchendichte genau berechnen: mit Hilfe von SEPView ist dies und vieles mehr möglich.

SEPView dient sowohl zur Gerätesteuerung als auch zur Organisation, Visualisierung, Analyse und Ergebnisdokumentation der Messdaten. 

Dank der intuitiven benutzerfreundlichen grafischen Oberfläche sind neue Nutzer binnen kürzester Zeit in der Lage die umfassenden Features für ihre tägliche Arbeit zu nutzen.

Die gesamten Informationen (Kalibrierdaten, programmierte Messmethoden, Kommentare, Transmissionsprofile, Geräteparameter u.a.) werden in einer Datenbank gespeichert, eine Dateienverwaltung entfällt. Auf diese Weise ist ein schneller Zugriff auf die Validier- und Messdaten sowie Probeninformationen garantiert. Daten unterschiedlicher Messungen können zu Vergleichszwecken bequem gemeinsam dargestellt und analysiert werden. 

Für die qualitative und quantitative Auswertung werden verschiedene Komponenten bereitgestellt, z.B.

- zur Charakterisierung der Aufklarung

- die Integrale Transmission

- für Sedimentation, Aufrahmung und Konsolidierung

- das Front Tracking

- Position der Phasengrenze

- linearer Schwächungskoeffizient (LUMiReader X-Ray)

sowie das PSA-Modul für die Berechnung der Partikelgrössenverteilung. Das integrierte Animationswerkzeug gestattet die wiederholte schrittweise Anzeige der Messdaten zur leichten Identifikation auch komplexer Entmischungsphänomene mit einstellbaren Anzeigeparametern. 

SEPView bietet selbstverständlich die Datenbank-Funktionen wie Import & Export von Messungen und Ergebnissen, Filtersuche mit unterschiedlichen Kriterien, Administration und Nutzereinrichtung. Unterschiedliche Sprachen und unterschiedliche physikalische Einheitensysteme werden unterstützt.

15.12.2021: LUM Messgeräte und SEPView Software sind NICHT betroffen von CVE-2021-44228 - auch bezeichnet als Log4Shell

Derzeit wird eine Sicherheitslücke in der weit verbreiteten Java-Komponente log4j von verschiedenen Herstellern untersucht und behoben. Heute möchten wir Sie darüber informieren, dass LUM-Geräte sowie alle Versionen der Software SEPView weder diese Komponente noch Java-Technologie verwenden. Daher sind sie von dieser Sicherheitsanfälligkeit nicht betroffen. Möglicherweise möchten Sie Workstations und Server unter Ihrer Administration, auf denen SEPView ausgeführt wird, sorgfältig auf unabhängig installierte Dienste und Anwendungen in Bezug auf das Problem überprüfen.